低阻雙電四探針測(cè)試儀 型號(hào):ET50-FT-361A

適用范圍：
四探針法測(cè)試的 導(dǎo)電性新材料、鋁箔、銅箔等具有類似性質(zhì)要求測(cè)量的材料.
四探針法測(cè)試低阻材料方阻及電阻率，可以測(cè)試到1uΩ方阻值，采用AD芯片控制，恒流輸出，液晶顯示，自動(dòng)數(shù)據(jù)測(cè)量，系數(shù)補(bǔ)償

低阻雙電四探針測(cè)試儀 型號(hào):ET50-FT-361A

技術(shù)參數(shù)
1.方塊電阻范圍 10^-6～2×10^2Ω/□
2.電阻率范圍 10^-7～2×10^3Ω-cm
3.測(cè)試電流范圍 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA
4.電流精度 ±0.1%
5.電阻精度 ≤0.3%
6.顯示讀數(shù) 液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率

低阻雙電四探針測(cè)試儀 型號(hào):ET50-FT-361A

7.測(cè)試方式 組合雙電測(cè)試方法
8.工作電源working power 輸入: AC 220V±10%.50Hz功 耗：<30W
9.誤差errors ≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）
10.選購功能choose to buy 選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測(cè)試平臺(tái)；5.標(biāo)準(zhǔn)電阻
11.測(cè)試探頭test probe 探針間距選購： 2mm；3mm兩種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針、鍍金磷銅半球形針